ELO SERWIS


Idź do treści

EDX, EBSD

Bruker Nano

strona producenta
www.bruker-nano.de/quantax

Systemy Mikroanalizy Rengenowskiej do SEM i TEM

System Mikroanalizy Rentgenowskiej EDX Bruker Quantax

Idealny, uniwersalny system EDX dla przemysłu i nauki do bezstandardowej (analiza ze standardami jako opcja) mikroanalizy jakościowej i ilościowej powierzchni chropowatych, prób polerowanych, cienkich warstw.
System pozwala na automatyczną, interaktywną lub manualna analizę.
Obok sytemu skanowania zawiera opracowanie obrazów, skan liniowy, bardzo szybki mapping pierwiastków oraz wymianę danych z mikroskopem.
Najnowsze możliwości zarządzania projektami i prezentacji wyników.
System zawiera detektor XFlash serii 6T do wysokorozdzielczej, szybkiej analizy spektralnej pierwiastków w czasie rzeczywistym,

  • detektor SDD bez konieczności chłodzenia LN2 ze zintegrowanym dwustopniowym chłodzeniem metodą Peltier
  • detektor diodowy (SDD), powierzchnia aktywna 10, 30 60 i 100mm2 lub detektor Quad (4x10mm2)
  • zdolność rozdzielcza od 121eV (MnKa, 100 000 cps), (MnK, przy 100.000 cps)
  • cienkie okienko (slew-window) do detekcji pierwiastków od Berylu (4) to Ameryku (95)
  • maksymalna ilość zliczeń na wejściu 1,5000 cps, na wyjściu 6000 cps
  • bez wibracj i bez konieczności konserwacji
  • Hybrydowy processor pulsowy
  • Ekstremalnie niski czas “martwy”


Systemy Mikroanalizy Rengenowskiej do TEM

  • System zawiera detektor XFlash 6T do wysokorozdzielczej, szybkiej analizy spektralnej pierwiastków w czasie rzeczywistym,
  • detektor SDD bez konieczności chłodzenia LN2 ze zintegrowanym dwustopniowym chłodzeniem metodą Peltier
  • detektor diodowy (SDD), powierzchnia aktywna 30 mm2 lub 60mm2
  • zdolność rozdzielcza od 126 eV (MnK, przy 100.000 cps)
  • cienkie okienko (slew-window) do detekcji pierwiastków od Boru (5) to Ameryku (95)
  • bez wibracj i bez konieczności konserwacji


System EBSD QUANTAX CrystAlign 200

  • Kamera wysokoczuła CCD 12 bit (8000 pattern/sek) o rozdzielczości 640 x 480 pixeli
  • 800 patterns/sek @8x8 bining (80x60 pixel maps do szybkiej akwizycji)
  • 620 patterns/sek @4x4 binning (160x120 pixel images) do do szybkiek katowej rozdzilczości i dużej szybkości
  • Duży ekran fosforowy 43 x 25,5mm (kąt stały 20-100°).
  • Odległość próba - ekran od 140 do 10mm
  • Oprogramowanie do sterowania systemem i opracowywania wyników.
  • Współpraca z oprogramowaniem i systemem detektora EDS

Powrót do treści | Wróć do menu głównego